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使用矢网精确测量PA S12 S22和功率的方法
前期介绍了小信号器件的S参数和增益压缩测量方法，有网友问到如果在DUT输出端加大衰减器后怎样使用矢量网络分析仪进行校准和测试，今天介绍一下另外一种测试方法。1、传统PA的矢网测量方法DUT的大信号测量是至关重要的，尤其是S22（关系到与天线的匹配）和饱和功率（Psat，直接关系到发射功率）。在测试大功率PA时，由于一般PA输出功率小至几W，大到上百W，如果这么大的信号直接灌进矢网(矢网接收机线性区...
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使用矢网测量PA S11、S21和饱和功率的方法
上一篇文章介绍了如何使用矢网精确测量PA的S12S22和功率的方法，这边文章回答一下上次提到的问题，如何使用矢网PA测量S11、S21和饱和功率。提问：如果用矢网测量PA的饱和功率，矢网1端口输出功率（最大大概15dBm）推不饱DUT，该怎么解决？例如：S21=15dB，P3dB≈Psat≈30dBm@2.6G1、测量大功率PA背景上期讲到在测试大功率PA时，被测器件(DUT)的输出功率会超出测量...
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交调失真的意义及矢网实操测量方法
1、交调失真的意义非线性DUT（例如LAN、PA、塔放），当输入多个频率的信号时，各个频谱分量之间会产生互相作用，产生新的频谱分量（频谱再生）；当输入信号足够小放大器工作在线性区，交调失真不会恶化，保持在一个比较均衡的水平；随着输入到DUT的功率的增大，放大器逐渐进入压缩区，交调失真将发生快速恶化。假设两个频率信号分别是f1和f2，那么三阶交调分量的频率为2f1-f2和2f2-f1，并且2f1-f...
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芯片的可测性设计DFT
有些设计师有时会忽略设计出来的芯片是否能够顺利的被制造出来应用到产品中，他们往往更关注指标是否达到，先考虑设计再考虑测试，但随着电路复杂程度的提高，这种方法既费时又费力，并且往往造成制造过程中的一些不可预见的测试问题。解决芯片测试的根本方法是在芯片设计时就充分考虑到测试的要求，即在设计阶段就开始考虑如何对电路进行测试，并将一些可测性技术引入到芯片中，以降低测试方法的复杂性，这就是可测性设计(DFT...
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噪声的意义及测量方法
1、噪声的定义噪声系数是度量被测件（DUT）在射频信号通过时主要由于器件中的电子不规则热运动附加到信号上的杂乱信号，为了衡量这种恶化程度，引入噪声因子F（Noise Factor）和噪声系数NF（Noise Figure）的概念，也就是说噪声系数量化了DUT降低信号的信噪比的程度；图1.1 有用信号经过DUT前后的信噪比变化Noise Factor: F = SNRIN/SNROUTNoise F...
