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摘要 近场测量探棒是在电磁兼容性(EMC)和信号完整性分析(SI)常用的设计工具,在应用方面,我们使用数值模拟和实验分析比对了传统金属近场探棒跟新型的微光子主动近场探棒。数据显示传统探头在近场区域很容易与待测物产生严重的影响,而微光子探棒则相对于RF电磁场几乎是透明的。故而,使用传统EMC探头很容易导致错误的EMC近场测试结果并使得成本增加且耗时的重复设计。 简述 传统手持式EMI近场探头这...
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