2023-05-22 20:18发布
测试对象是一块WIFI芯片EVB板的RF通路，预留了pi型匹配位置
测试频段2.4G，使用村田的电容（1pF~3.3pF）和电感器件（1nH~3.3nH）进行阻抗匹配
实际测试，串1nH电感，史密斯圆图测试点往右下区域移动，串1pF电容，测试点往左上区域移动
测试的结果与理论正好反过来了，查看了器件的谐振频率为大于8GHz，2.4GHz频段应该不会导致器件自谐振
这到底是为什么？
1.感容物料反了
2.这个理论的前提是测量端面（校准后）和所调试的感容之间无任何射频器件（包括传输线）
感谢回答，您的意思是传输线影响了测试结果？
测试时，矢网的两端分别接的是芯片口（port1）和天线口（port2），中间确实有一段长走线，pi匹配预留处在这段走线上靠近芯片口（port1）的位置
简单涂鸦了一下，这种情况下，我想按理论去调整S11在史密斯圆图上的位置，是由于“匹配预留”和“port1”之间那段走线导致的误差吗？
但是实际这段走线很短，而且射频板中大多采用的都是这种预留匹配位置的设计，势必会引入误差？
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1.感容物料反了
2.这个理论的前提是测量端面（校准后）和所调试的感容之间无任何射频器件（包括传输线）
作者追问:2023-05-26 10:45
感谢回答，您的意思是传输线影响了测试结果？
测试时，矢网的两端分别接的是芯片口（port1）和天线口（port2），中间确实有一段长走线，pi匹配预留处在这段走线上靠近芯片口（port1）的位置
简单涂鸦了一下，这种情况下，我想按理论去调整S11在史密斯圆图上的位置，是由于“匹配预留”和“port1”之间那段走线导致的误差吗？
但是实际这段走线很短，而且射频板中大多采用的都是这种预留匹配位置的设计，势必会引入误差？
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