2023-02-24 16:09发布
对于天线接收机一体化平台，载波泄露和谐杂波的能量泄露被天线耦合后严重影响产品EMC，用进场探头不太容易定位能量场梯度和泄露位置，能否经过近场扫描形成类似红外成像的EMI分布图？便于评估EMI能量场分布。
您的这个问题的确很头疼。这种集成化设计就会对EMC排故带来挑战。一个方法就是在产品设计初做好仿真，并尽量做好混频时出现的载波泄露以及抑制谐波。您说的这种扫描成像成本很高，在暗室里用标准天线在不同位置扫描然后成像。
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您的这个问题的确很头疼。这种集成化设计就会对EMC排故带来挑战。一个方法就是在产品设计初做好仿真，并尽量做好混频时出现的载波泄露以及抑制谐波。您说的这种扫描成像成本很高，在暗室里用标准天线在不同位置扫描然后成像。
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