射频微波测试测量基础 – 网络分析仪

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本期网络分析仪讲座重点关注在网络分析仪的特性、分析与测量的基础理论以及所面临的相关挑战。我们会讨论传输线、S参数以及史密斯圆图等基础理论,对网络分析仪的基础框图、测量分析原理以及校准、误差修正等进行深入讨论。 

本期“网络分析仪”讲座重点关注在网络分析仪的特性、分析与测量的基础理论以及所面临的相关挑战。我们会讨论传输线、S参数以及史密斯圆图等基础理论,对网络分析仪的基础框图、测量分析原理以及校准、误差修正等进行深入讨论。 


演讲专家:程宁

专家职务:是德科技(中国)有限公司 应用工程师

专家简介:程宁,2007年毕业于北京邮电大学电信工程学院并加入安捷伦科技,有六年的时间担任软件研发工程师,负责安捷伦物理层测试系统(PLTS)的研发工作。2013年至今担任应用工程师,主要负责安捷伦/是德科技网络分析仪的应用支持。他的主要专长是网络分析仪的校准和测量,有源器件的测试,以及信号完整性的应用。他曾在ARFTG、DesignCon上发表过多篇与自动夹具移除(AFR)相关的文章,并持有一项AFR相关的美国专利。