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提问
电路/工艺
收录了81篇文章 ·365个问题 · 7人关注
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请问AFR去嵌功能在片上测试时使用的精度会不会比PCB上更好呢？

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请问如何对器件进行高精度测试和全波仿真建模（最好是等效电路提取）？现有基于传输线去嵌入校准方法不可避

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请问使用AFR与TRL, 哪种校准方式精度更好？

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我要测试的端口数很多，但是是异形接头，AFR能支持多端口吗？

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AFR功能目前支持到多高的频率？

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我的被测试器件接头没有现成的校准件，如果使用AFR的话，有没有什么需要注意的或者前提条件？

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AFR校准功能使用上有什么限制？

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验证50ohm-75ohm的pad和75ohm电缆是否良好采取以下方法;在75ohm电缆校准后，摇晃

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对于32通道每个通道1601点的校准文件，在用指令进行recall的时候，需要等待比较久，这个时间如

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对于同一个被测物，采用端口扩展后，相位对齐了，但是回波和幅度变化比较大，应该怎么处理呢？谢谢。

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请问怎么把射频转换头校准掉？

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一般测宽带功分器(1g~18g)的参数怎么个校准法？

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如果只买了两端 公-公 极性的 电子校准件，可以校准母的被测件；当遇到 公的被测件，有适配器转换。这

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混频器SMC Phase测试，要用梳状波发生器校准仪器的什么参数呢，为啥梳状波校准件功率计校准能去除

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时域加窗，端口延伸 和去嵌入，AFR等校准技巧有什么区别？应用场合怎样？

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请问像巴伦这种单端转差分形式的该如何校准？

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