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擅长射频及半导体测试(公众号:RFZone)

擅长射频测试及半导体测试

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如何理解相位噪声与时间抖动的关系?

每当介绍相位噪声测试方案时,都会提到时间抖动,经常提到二者都是表征信号短期频率稳定度的参数,而且是频域和时域相对应的参数。正如题目所示,相位噪声与时间抖动有着一定的关系,那么相噪是与哪种类型的抖动相对应,彼此之间又有着怎样的数学关系,这些疑问都将在文中找到答案。1. 相位噪声与时间抖动概述相位噪声通常是针对CW信号而言的,是表征信号频谱纯度的非常重要的参数,衡量了信号频率的短期稳定度。相位噪声是频...

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频谱分析系列:三阶交调失真概述及测试

关于半导体器件的非线性特性,在上一篇文章《1dB增益压缩点概述及测试》中对其产生的原因进行了简单的阐述,并介绍了1dB压缩点的定义及测试方法。表征非线性的参数除了P1dB外,另外一个非常重要的通用参数就是三阶交调失真(3rd-order IMD),这将是本文要重点介绍的内容。任何半导体器件都具有一定的非线性,尤其在大信号输入情况下,非线性将更加明显。由于放大器具有一定的增益,这意味着放大器有着比其...

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频谱分析系列:为什么需要预选器?

无论是采用模拟IF处理的传统频谱仪,还是采用数字IF处理的现代频谱仪,都是扫频式架构,通过第一级本振(LO)的调谐实现射频的扫频测试。熟悉频谱仪架构的朋友都了解,在第一级混频器之前都会存在一个预选器,如图1所示,这个预选器是个什么器件?具体有什么功能呢?图1. 传统频谱仪架构示意图对于频谱测试,射频前端的预选器至关重要,这是实现准确频谱测试的重要前提!预选器实际上就是一个滤波器,实际应用中,要么是...

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线缆也可能是静电危害的罪魁祸首?

众所周知,几乎所有的电子元器件都是对静电敏感的,如果处理不当,将恶化元器件的性能,甚至造成彻底损坏。在低温干燥的环境中,极易产生静电,当然静电主要还是通过摩擦产生的。除了我们所熟知的静电产生的原因外,还有一种情况容易被忽略,那就是长线缆的电荷积聚。长线缆为什么会产生静电危害,在哪些场景下会产生静电危害,以及如何进行规避,这些将是本文要重点介绍的内容。除非特别说明,下文中的线缆都是指射频同轴线缆。线...

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