目前高频测dk,df尤其是低df的方法主要是谐振腔。主流的有SPDR和SCR。是否也适用?

2021-11-04 13:47发布

目前高频测dk,df尤其是低df的方法主要是谐振腔。主流的有SPDR和SCR。ASTM D2520, 是否也适用?有和前两种做过对比。 这分别是IPC和ASTM的标准?

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1条回答
会议专家答疑
1楼 · 2021-11-04 13:55.采纳回答

作为PCB高频电路板材的Dk,Df测试方法主要采用IPC TM650的测试方法,SPDR是其中测量方法之一,其通常用于测量平板状平面方向(x,y方向)的Dk,而不能测量厚度方向(z方向)的介电常数即Dk。