2022-02-14 11:57发布
在测50G的条件下，LRRM校准完几分钟就会看到open 和short 以及器件测试结果有高频打绕现象，请问怎么解决？
这个有几个可能的原因，第一，电缆的稳定性不太好，第二，探针的一致性差了一点，第三，端口隔离不太好，需要吸波片放在wafer下面，这几个原因都需要单独去验证。
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这个有几个可能的原因，第一，电缆的稳定性不太好，第二，探针的一致性差了一点，第三，端口隔离不太好，需要吸波片放在wafer下面，这几个原因都需要单独去验证。
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