2022-02-11 17:28发布
在使用TRL在片校准校准方式对矢网进行校准到50G，但在高频40几G时测得的s参数会有凹坑现象，这是矢网校准方法原因还是校准件原因呢？
抛开测试电缆和探针的因素，主要是校准件质量的问题，当然，如果不想改进TRL校准件，可以改用LRRM或者Multi-Line TRL校准，凹陷会减小。
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{var%20f='http://v.t.sina.com.cn/share/share.php?appkey=1515056452',u=z||d.location,p=['&url=',e(u),'&title=',e(t||d.title),'&source=',e(r),'&sourceUrl=',e(l),'&content=',c||'gb2312','&pic=',e(p||'')].join('');function%20a(){if(!window.open([f,p].join(''),'mb',['toolbar=0,status=0,resizable=1,width=440,height=430,left=',(s.width-440)/2,',top=',(s.height-430)/2].join('')))u.href=[f,p].join('');};if(/Firefox/.test(navigator.userAgent))setTimeout(a,0);else%20a();})(screen,document,encodeURIComponent,'','','https://www.rfask.net/data/attach/logo/logo.png', '推荐 MWRF会议提问 的问题《在使用TRL在片校准校准方式对矢网进行校准到50G，但在高频40几G时测得的s参数会有凹坑现象，这是》','https://www.rfask.net/q-867.html','页面编码gb2312|utf-8默认gb2312'));){kind=link}
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抛开测试电缆和探针的因素，主要是校准件质量的问题，当然，如果不想改进TRL校准件，可以改用LRRM或者Multi-Line TRL校准，凹陷会减小。
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