所谓两步法，意思是在第一步当中通过传统单探头OTA的方法，获取到终端的天线方向图，在第二步当中将获取得到的天线方向图数据导入基带信道仿真器当中，然后对DUT 进行传导测试，以便考虑其基带芯片及天线的整体性能。从理论上说，两步法与多探头方法是类似的，都是将DUT 置于模拟的几何信道模型当中，这些信道模型可以是来源于标准模型，也可以是自定义的，只不过多探头方法是通过构建物理暗室及多探头，用信道仿真器在实际空间中重现信道模型，而两步法则是将测得的天线方向图放进基带信道模拟器当中通过软件仿真的方法对DUT 施加衰落影响。