2022-05-20 10:23发布
通常光芯片的封装会带来额外的光衰减和射频损耗，导致器件性能下降。封装工艺的性能和稳定性对于封装后器件的性能有很大影响。并且有一些结构是无法在封装之后测试的，因为封装一般只会引出实际应用中使用的端子。
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{var%20f='http://v.t.sina.com.cn/share/share.php?appkey=1515056452',u=z||d.location,p=['&url=',e(u),'&title=',e(t||d.title),'&source=',e(r),'&sourceUrl=',e(l),'&content=',c||'gb2312','&pic=',e(p||'')].join('');function%20a(){if(!window.open([f,p].join(''),'mb',['toolbar=0,status=0,resizable=1,width=440,height=430,left=',(s.width-440)/2,',top=',(s.height-430)/2].join('')))u.href=[f,p].join('');};if(/Firefox/.test(navigator.userAgent))setTimeout(a,0);else%20a();})(screen,document,encodeURIComponent,'','','https://www.rfask.net/data/attach/logo/logo.png', '推荐 MWRF会议提问 的问题《请问封装后测试和裸片测试会测试性能会有下降吗？如果有是哪些因素导致的呢？》','https://www.rfask.net/q-1136.html','页面编码gb2312|utf-8默认gb2312'));){kind=link}
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通常光芯片的封装会带来额外的光衰减和射频损耗，导致器件性能下降。封装工艺的性能和稳定性对于封装后器件的性能有很大影响。并且有一些结构是无法在封装之后测试的，因为封装一般只会引出实际应用中使用的端子。
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