请问封装后测试和裸片测试会测试性能会有下降吗?如果有是哪些因素导致的呢?

2022-05-20 10:23发布

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1条回答
会议专家答疑
1楼 · 2022-05-20 11:07.采纳回答

通常光芯片的封装会带来额外的光衰减和射频损耗,导致器件性能下降。封装工艺的性能和稳定性对于封装后器件的性能有很大影响。并且有一些结构是无法在封装之后测试的,因为封装一般只会引出实际应用中使用的端子。

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