芯片测试讲座 – 射频前端噪声系数测试

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射频前端芯片和器件是无线连接的核心,无线连接需求不止,射频前端器件数量将成倍的增长。而噪声系数是影响射频前端灵敏度的关键指标,噪声系数测试方法众多,新型器件也不断涌现,在设计验证阶段以及量产阶段对于精度和速度的要求各有不同,本次讲座将为您做一次分析与总结。如果您是射频前端电路研发、产品或生产方面的工程师或项目经理,请不要错过本次讲座。

射频前端芯片和器件是无线连接的核心,无线连接需求不止,射频前端器件数量将成倍的增长。而噪声系数是影响射频前端灵敏度的关键指标,噪声系数测试方法众多,新型器件也不断涌现,在设计验证阶段以及量产阶段对于精度和速度的要求各有不同,本次讲座将为您做一次分析与总结。如果您是射频前端电路研发、产品或生产方面的工程师或项目经理,请不要错过本次讲座。

1. 噪声系数测量方法简单回顾与更新
2. 射频前端芯片设计验证以及量产噪声系数测量分析


演讲专家:查海辉

专家职务:是德科技(中国)有限公司 应用工程师

专家简介:查海辉担任是德科技应用工程师,主要负责射频微波产品的技术支持工作,包含网络分析仪、LCR/阻抗表、半导体测试仪、频谱/信号分析仪等相关产品。