5G Massive MIMO 天线发展趋势及测试

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本次讲座将介绍5G时代的基站多端口天线测试趋势,回顾多端口无源天线的传导性测试要求及测量挑战,进而介绍如何应对这些挑战并解决客户的问题。

本次讲座将介绍5G时代的基站多端口天线测试趋势,回顾多端口无源天线的传导性测试要求及测量挑战,进而介绍如何应对这些挑战并解决客户的问题。


一、5G多端口天线当前发展趋势
二、5G多端口测试需求及挑战
三、5G多端口高效率低成本测试

演讲专家:吴辉

专家职务:射频微波产品应用专家

专家简介:吴辉先生毕业于电子科技大学,拥有射频微波技术专业硕士学位。2008年加入是德科技(原安捷伦科技)中国有限公司,并担任射频微波产品应用专家,负责射频微波领域的通用测试。在射频微波元器件,毫米波/太赫兹,材料测试,数字通信测试等领域拥有丰富的测试经验。