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对于多端口测试，一般校准后曲线稳定能保持多久？

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我们自己设计了TRL校准件，但是校准后的测试结果与只使用一个直通件然后归一化处理后的测试结果，在测试

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夹具（SMA+PCB）的端口延伸 都有哪些方法？Portextension 或其它？有什么区别？

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请问AFR去嵌功能在片上测试时使用的精度会不会比PCB上更好呢？

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请问如何对器件进行高精度测试和全波仿真建模（最好是等效电路提取）？现有基于传输线去嵌入校准方法不可避

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我要测试的端口数很多，但是是异形接头，AFR能支持多端口吗？

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AFR功能目前支持到多高的频率？

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我的被测试器件接头没有现成的校准件，如果使用AFR的话，有没有什么需要注意的或者前提条件？

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请问怎么把射频转换头校准掉？

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一般测宽带功分器(1g~18g)的参数怎么个校准法？

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